【会员风采】安徽创芯优测电子有限公司开幕仪式暨新品发布会圆满落幕

2023-05-11 16:18:51 来源 : 面包芯语

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下文来自会员单位-安徽创芯优测电子有限公司

安徽创芯优测电子有限公司开幕仪式暨新品发布会于2023年5月9日在合肥高新区圆满落下帷幕。

(资料图片仅供参考)

整场活动由三部分组成：创芯优测公司开业仪式、新产品发布和招待晚宴。

公司简介

安徽创芯优测电子有限公司（简称创芯优测U-test）成立于2022年11月，总部位于合肥高新区。创芯优测在广州拥有产品开发设计团队，在西安、苏州、深圳等地拥有销售服务团队，就近服务客户，提供专业、贴心、高效的服务。

创芯优测团队秉承诚信合作的核心价值观，积淀近30多年的测试产业know-how,致力于为客户提供高品质、高性价比、高效率的半导体测试解决方案。

产品介绍

经过团队近3年的潜心打磨，创芯优测已发布3款面向不同测试需求场景的测试设备，C5000系列、C3000系列、C8000系列。

C5000系列，聚焦电源管理IC市场。C5000系列机台设计理念源自经典设备V50，基于V50基础上进行再开发，更贴合国内电源管理芯片客户的需求。

C5000的高度集成设计能够依据客户的需求，提供多种测试方案。支持多站扩大和高引脚芯片，最大支持256数字通道。C5000拥有简单易用的系统设置，在为用户提供专业、全面的测试服务。

（图为C5000机台实物照片）

C3000，面向LCD驱动测试系统，传承V50和S100优秀的设计，专为LCD驱动测试需求而打造。LCDD C3000提供高效的编程工具，缩短客户测试程序开发时间，提升产品测试时效。

LCDD C3000具有良好的兼容概念设计特性，可全面兼容配件、结构设计和定制化的测试需求。LCDD C3000测试方案能有效降低客户的测试成本并提升测试效率。

C8000系列，包含C8010和C8050两个型号。

C8000系列是经过专业认证的老化+测试一体化的测试机台，旨在为用户筛选排查产品开发初期制程不良、设计缺陷等因素而造成的潜在失效性或其它故障风险，确保产品在实际使用中的稳定性和可靠性。电⼦零件在⽣产之初尚不成熟时，基于品质的把控需经过Burn-in（老化）的测试筛出瑕疵品。Burn-in Tester是为了筛选排查产品开发初期制程制造工艺中的不良、设计缺陷等因素而造成的潜在性失效，减少由此造成故障失效风险。

C8000老化测试设备系列具有三个特点：

1.低运营成本理念设计。板子尺寸是标准品且不锁License,可配合客户的需求寻求外协板卡厂商合作。

2. 灵活的BIB设计，可以满足客户多样化的测试需求。

3. 成熟的测试配套。

结语

作为承继近30年半导体测试产业积淀的创业团队，创芯优测心怀国产化宏愿，于合肥高新区这片半导体新热土，扬帆起航、再创辉煌作为承继近30年半导体测试产业积淀的创业团队，创芯优测心怀国产化宏愿，于合肥高新区这片半导体新热土杨帆起航、再创辉煌！

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